OTel Exemplars：Trace-to-Metrics关联与高卡控制

OTel Exemplars：Trace-to-Metrics关联与高卡控制概览Exemplars 允许在指标数据点中嵌入 Trace 引用，提升定位与诊断效率。在采样与高基数控制上需谨慎配置以平衡成本与收益。技术参数（已验证）语义：在直方图/分布指标中附带 `trace_id`/`span_id` 引用；按 OTel 语义约定执行。采样：对 Trace 设置适当采样率与优先级；仅为关键分位或异常附加样本。导出：后端需支持 Exemplars（Prometheus/Tempo 等）；在 Collector 配置处理器与导出器。高卡控制：限制标签基数与样本频率；记录丢弃与队列积压。关联分析：在看板中支持从指标跳转到 Trace；形成闭环。实战清单为核心指标启用 Exemplars；在异常与高延迟区间附加 Trace。控制标签与样本频率；纳入成本监控与告警。在 Collector 与后端联动配置与验证；持续评估诊断收益。